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介電常數(shù)測(cè)試儀一般參數(shù)

來(lái)源:技術(shù)文章    更新時(shí)間:2015-02-25    瀏覽:1643次

介電常數(shù)測(cè)試儀 GDAT-A


BH916介質(zhì)損耗裝置》(測(cè)試夾具)是測(cè)試系統(tǒng)的核心檢測(cè)部件,它由一個(gè)LCD數(shù)字顯示的微測(cè)量裝置和一對(duì)經(jīng)精密加工的、間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測(cè)材料樣品,微測(cè)量裝置則顯示被測(cè)材料樣品的厚度。通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化的量化,測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,精密的加工設(shè)計(jì)、的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能,克服了機(jī)械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測(cè)量誤差。



基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測(cè)試系統(tǒng)的二次儀表,其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計(jì)代表了行業(yè)的zui高成就,隨之帶來(lái)了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機(jī)界面,采用LCD液晶屏顯示各測(cè)量因子:Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測(cè)試頻率F、諧振趨勢(shì)指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測(cè)試頻率10KHz-60MH200KHz-160MHz,頻率精度高達(dá)1×10-6。國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來(lái)測(cè)定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),把被測(cè)材料作為平板電容的介質(zhì),與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測(cè)試回路,以獲取zui高的測(cè)試靈敏度。因而Q表法的測(cè)試結(jié)果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。


GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機(jī)控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)便。操作者能在任意點(diǎn)頻率或電容值的條件下檢測(cè)Q值甚至tanδ,無(wú)須關(guān)注量程和換算,*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴(lài)面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無(wú)疑是電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測(cè)量的理想工具。



3、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件(裝入GDAT),實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計(jì)算的微處理化,tanδ 測(cè)量結(jié)果的獲得無(wú)須繁瑣的人工處理,因而提高了數(shù)據(jù)的度和測(cè)量的同一性,是人工讀值和人工計(jì)算*的。



4、一個(gè)高品質(zhì)因數(shù)(Q)的電感器是測(cè)量系統(tǒng)*的輔助工具,關(guān)乎測(cè)試的靈敏度和精度,在系統(tǒng)中它與平板電容(BH916)構(gòu)成了基于串聯(lián)諧振的測(cè)試回路。本系統(tǒng)推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個(gè)高性能電感器組成,以適配不同的檢測(cè)頻率。



附表一,介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表


BH916測(cè)試裝置                                         GDAT高頻Q表


平板電容極片 Φ50mm                                  可選頻率范圍20KHz-60MHz、


間距可調(diào)范圍≥15mm                                   頻率指示誤差3×10-5±1個(gè)字


夾具插頭間距25mm±0.01mm                              主電容調(diào)節(jié)范圍30-500


測(cè)微桿分辨率0.001mm                                  主調(diào)電容誤差<1%或1pF


夾具損耗角正切值≦4×10-4 1MHz)                     Q測(cè)試范圍2~1023



標(biāo)簽:

介電常數(shù)測(cè)試儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀

高頻介電常數(shù)測(cè)試儀

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