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絕緣材料介電常數(shù)測試儀簡介高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。
絕緣材料介電常數(shù)測試儀簡介滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。
絕緣材料介電常數(shù)測試儀基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表,其數(shù)碼化主調(diào)電容器的創(chuàng)新設(shè)計代表了行業(yè)的高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。
該表具有*人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調(diào)電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。
高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz,頻率精度高達(dá)1×10-6。
國標(biāo)GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε),把被測材料作為平板電容的介質(zhì),與輔助電感等構(gòu)成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。
因而Q表法的測試結(jié)果更真實地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。
絕緣材料介電常數(shù)測試儀測試裝置 GDAT主機
平板電容極片 Φ50mm 可選頻率范圍20KHz-60MHz、
間距可調(diào)范圍≥15mm 頻率指示誤差3×10-5±1個字
夾具插頭間距25mm±0.01mm 主電容調(diào)節(jié)范圍30-500
測微桿分辨率0.001mm 主調(diào)電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz) Q測試范圍2~1023
絕緣材料介電常數(shù)測試儀注意事項:
1. 測試裝置使用結(jié)束后,請及時關(guān)閉液晶顯示屏的電源,可延長電池的壽命。
如果電池發(fā)出電壓低報警,應(yīng)及時更換電池保證測量的精度。
電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。
用工具將十字蓋冒逆時針旋轉(zhuǎn)約45°,既可取下十字蓋冒,更換電池。
2.本測試裝置是由精密機械構(gòu)件組成的測微設(shè)備,所以在使用和保存時要避免振動和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,用戶不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測試夾具受到碰撞,可以送生產(chǎn)廠家定期檢查,要檢測以下幾個指標(biāo):
絕緣材料介電常數(shù)測試儀工作特性
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
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標(biāo)簽:
介電常數(shù)測試儀
高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
絕緣材料介電常數(shù)測試儀